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Comp. brand: XINZHIZAO
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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie X
RCRP254706
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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie X
Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1
- Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
- Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
- L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
- Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
- Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.
Modelli di supporto
- Apple iPhone X/XS/XS Max
Specifiche
- Marca: XINZHIZAO
- Modello: supporta la serie iPhone X
- Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
- Materiale: lega di alluminio
- Peso lordo: 500 g
Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1
- Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
- Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
- Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
- Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati